| 发明名称 | 用于集成无源器件的测试板以及测试系统 | ||
| 摘要 | 本实用新型公开了一种用于集成无源器件的测试板以及测试系统。一种用于集成无源器件的测试板，包括测试结构和校准结构，其特征在于：所述校准结构与所述测试结构位于同一块PCB板上，并且与所述测试结构的布局相同。依照本实用新型的用于集成无源器件的测试结构，在测试板上设计了IPD芯片的高频测试连接端口和误差校准结构，实现了测试点的连接，又通过校准结构的设计巧妙地消除测试链路中的误差，方便地进行IPD高频测试的校准和测试，提供了一种便捷准确的测量方式，满足IPD芯片研发工作中的测试需求。 | ||
| 申请公布号 | CN203950019U | 申请公布日期 | 2014.11.19 |
| 申请号 | CN201420307393.6 | 申请日期 | 2014.06.10 |
| 申请人 | 中国科学院微电子研究所;华进半导体封装先导技术研发中心有限公司 | 发明人 | 杜天敏;陆原;刘丰满 |
| 分类号 | G01R31/27(2006.01)I;G01R31/02(2006.01)I | 主分类号 | G01R31/27(2006.01)I |
| 代理机构 | 北京蓝智辉煌知识产权代理事务所(普通合伙) 11345 | 代理人 | 陈红 |
| 主权项 | 一种用于集成无源器件的测试板，包括测试结构和校准结构，其特征在于：所述校准结构与所述测试结构位于同一块PCB板上，并且与所述测试结构的布局相同。 | ||
| 地址 | 100029 北京市朝阳区北土城西路3# | ||