一种适用于芯片测试的功能切换电路

摘要

本实用新型提出一种适用于芯片测试的功能切换电路。该适用于芯片测试的功能切换电路主要包括测试焊盘、串转并电路、控制电路和n位电平转换电路；所述控制电路对串转并电路进行控制，使得测试焊盘输出的1位电平信号通过串转并电路转换为m位并行信号，这里m≤n，最后经n位电平转换电路中的m位电平转换后输出。本实用新型采用测试焊盘取代传统的熔丝电路，可以通过外接探针扎到测试焊盘输入不同的信号，只使用1个测试焊盘，便实现了现有技术中n位熔丝电路的功能。

主权项

一种适用于芯片测试的功能切换电路，其特征在于：主要包括测试焊盘、串转并电路、控制电路和n位电平转换电路；所述控制电路对串转并电路进行控制，使得测试焊盘输出的1位电平信号通过串转并电路转换为m位并行信号，这里m≤n，最后经n位电平转换电路中的m位电平转换后输出。