发明名称 | 封装基板及其检测方法;PACKAGE SUBSTRATE AND TESTING METHOD THEREFOR | ||
摘要 | 一种封装基板,系包括:定义有布线区与检测区之板体、嵌埋于该布线区之电性接触垫、以及位于该板体之检测区并电性连接该电性接触垫之复数测试垫,且该测试垫之顶面积大于该电性接触垫之顶面积,以当进行嵌埋式线路之电性检测时,探针容易精准对位该测试垫,而不会受该板体阻挡。 | ||
申请公布号 | TW201432866 | 申请公布日期 | 2014.08.16 |
申请号 | TW102103870 | 申请日期 | 2013.02.01 |
申请人 | 欣兴电子股份有限公司 | 发明人 | 胡迪群;王琮熙;马瑞阳 |
分类号 | H01L23/488(2006.01) | 主分类号 | H01L23/488(2006.01) |
代理机构 | 代理人 | <name>陈昭诚</name> | |
主权项 | |||
地址 | UNIMICRON TECHNOLOGY CORP. 桃园县桃园市龟山工业区兴邦路38号 |