发明名称 封装基板及其检测方法;PACKAGE SUBSTRATE AND TESTING METHOD THEREFOR
摘要 一种封装基板,系包括:定义有布线区与检测区之板体、嵌埋于该布线区之电性接触垫、以及位于该板体之检测区并电性连接该电性接触垫之复数测试垫,且该测试垫之顶面积大于该电性接触垫之顶面积,以当进行嵌埋式线路之电性检测时,探针容易精准对位该测试垫,而不会受该板体阻挡。
申请公布号 TW201432866 申请公布日期 2014.08.16
申请号 TW102103870 申请日期 2013.02.01
申请人 欣兴电子股份有限公司 发明人 胡迪群;王琮熙;马瑞阳
分类号 H01L23/488(2006.01) 主分类号 H01L23/488(2006.01)
代理机构 代理人 <name>陈昭诚</name>
主权项
地址 UNIMICRON TECHNOLOGY CORP. 桃园县桃园市龟山工业区兴邦路38号