探针卡

摘要

本发明关于一种探针卡，系用以检查被检查体的电性特性，其具有：复数个接触组件，系于检查时接触被检查体；复数个测试晶片，系与被检查体之间传送或接收检查用电子讯号，以检查该被检查体的电性特性；导电部，系将接触组件与对应于该接触组件之该测试晶片加以电连接，并于下方面配置有复数个接触组件；及推压部，系于检查时将导电部推压至被检查体侧，而于接触组件与被检查体之间赋予推压力。