发明名称 一种光学式触控屏的调试方法
摘要 本发明是一种光学式触控屏的调试方法,包括步骤:1)动态校对相邻两个光源模组的最佳边界;2)以所述最佳边界为判断位置,对所述相邻两个光源模组的发光功率进行调试,使该相邻两个光源模组在该最佳边界处的发光强度相同;3)记录步骤2)之后该相邻两个光源模组的发光曲线,对该发光曲线做一致化处理,使光学感测模组的感光强度均匀化。该调试方法由于增加了对相邻的光源模组之间的最佳边界的调试,从而避免了光源模组之间的间隙因环境或组装时产生的改变而使得某一侧的光源duty过高。同时,也避免了因某一侧的光源duty过高导致的一致性变差。
申请公布号 CN102339174B 申请公布日期 2013.09.11
申请号 CN201110350629.5 申请日期 2011.11.08
申请人 苏州佳世达电通有限公司;佳世达科技股份有限公司 发明人 毛昭凯;张皓崴
分类号 G06F3/042(2006.01)I 主分类号 G06F3/042(2006.01)I
代理机构 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人 常亮;李辰
主权项 一种光学式触控屏的调试方法,所述光学式触控屏包括至少2个光学感测模组、多个光源模组以及由该多个光源模组围成的触控区,其特征在于:所述调试方法包括步骤:1)动态校对相邻两个光源模组的最佳边界;2)以所述最佳边界为判断位置,对所述相邻两个光源模组的发光功率进行调试,使该相邻两个光源模组在该最佳边界处的发光强度相同;3)记录步骤2)之后该相邻两个光源模组的发光曲线,对该发光曲线做一致化处理,使光学感测模组的感光强度均匀化,所述步骤1)中的校对过程包括如下步骤:1.1)以相同校对发光功率先后开启所述相邻两个光源模组;1.2)搜寻该两个光源模组发光曲线的交接点;1.3)记录该交接点在光学感测模组上的感测位置,该感测位置即为最佳边界,所述步骤2)包括步骤:2.1)先后开启相邻的两个光源模组,分别记录下该两个光源模组的发光曲线;2.2)利用所述最佳边界,比对所述相邻两个光源模组在该最佳边界值上的光强大小;2.3)当所述步骤2.2)中的比对结果为不同时,调节其中光强较弱的一个光源模组发光功率,使两者在该最佳边界值上的光强相同。
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