内存卡自动插拔测试结构

摘要

本实用新型公开了一种内存卡自动插拔测试结构，包括内存固定杆、顶杆和若干弹性体，内存固定杆和顶杆能够朝向测试插槽做来回直线移动，顶杆一端连接外部驱动装置且另一端能够抵顶内存固定杆，弹性体一端固定止动且另一端连接内存固定杆，先将内存卡固定于内存固定杆上，外部驱动装置驱动顶杆做推进运动，顶杆抵顶内存固定杆一起运动致使内存固定杆将内存卡插入相应的测试插槽中，测试完成后外部驱动装置驱动顶杆做拉出运动，顶杆与内存固定杆脱离，内存固定杆在弹性体作用下回弹至初始位置，以此实现内存卡的自动插拔；另外，本实用新型拨片的结构设计，使得本实用新型具有自动打开测试插槽两侧耳扣的功能，更加便于内存卡的自动插拔。

主权项

一种内存卡自动插拔测试结构，其特征在于：包括内存固定杆（1）、顶杆（2）和若干弹性体，所述内存固定杆（1）和所述顶杆（2）能够朝向测试插槽（B）做来回直线移动，内存卡（A）能够固定于所述内存固定杆（1），所述顶杆（2）一端连接外部驱动装置且另一端能够抵顶所述内存固定杆（1），所述弹性体一端固定止动且另一端连接所述内存固定杆（1），所述弹性体的伸缩方向与所述顶杆（2）的运动方向平行。