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发明名称
负型光阻材料及使用其形成图型之方法
摘要
本发明系提供一种具有优于以往之羟基苯乙烯系、酚醛系之负型光阻材料的高解像度,曝光后之图型形状良好,显示更优异的耐蚀刻性的负型光阻材料,特别是化学增幅负型光阻材料及使用该材料的图型形成方法。;本发明之负型光阻材料,其特征系至少含有:具有下述一般式(1)表示之羟基乙烯基萘之重复单位的高分子化合物。;【化47】;(1)
申请公布号
TWI395063
申请公布日期
2013.05.01
申请号
TW096126828
申请日期
2007.07.23
申请人
信越化学工业股份有限公司 日本
发明人
畠山润;武田隆信
分类号
G03F7/038;H01L21/027;C08F212/32
主分类号
G03F7/038
代理机构
代理人
林志刚 台北市中山区南京东路2段125号7楼
主权项
地址
日本
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