| 发明名称 | 用于样品分析的方法及设备 | ||
| 摘要 | 本发明涉及用于分析样品(1)的方法，包括以下步骤：(i)通过安装在悬臂(5)上的至少一个探针(4)的尖端(3)接近所述样品(1)的区域；(ii)从通过安装在所述悬臂(5)上的所述至少一个探针(4)的所述尖端(3)接近的所述区域除去样品材料；以及(iii)传感与步骤(ii)中所述样品材料的去除相关的参数，其中重复步骤(i)到(iii)，以促使除去所述样品(1)的至少一层。 | ||
| 申请公布号 | CN1979126B | 申请公布日期 | 2012.08.22 |
| 申请号 | CN200610128908.6 | 申请日期 | 2006.09.01 |
| 申请人 | 国际商业机器公司 | 发明人 | G·K·宾宁 |
| 分类号 | G01N13/10(2006.01)I;G12B21/08(2006.01)I | 主分类号 | G01N13/10(2006.01)I |
| 代理机构 | 北京市中咨律师事务所 11247 | 代理人 | 于静;刘瑞东 |
| 主权项 | 一种用于分析样品(1)的方法，包括以下步骤：(i)通过安装在悬臂(5)上的至少一个探针(4)的尖端(3)接近所述样品(1)的区域；(ii)选择通过加热安装在所述悬臂(5)上的所述至少一个探针(4)的所述尖端(3)，从通过安装在所述悬臂(5)上的所述至少一个探针(4)的所述尖端(3)接近的所述区域除去样品材料；以及(iii)传感与步骤(ii)中所述样品材料的去除相关的参数，其中重复步骤(i)到(iii)，以促使除去所述样品(1)的至少一层。 | ||
| 地址 | 美国纽约 | ||