一种针对PLL的ATE测试电路及其测试方法

摘要

本发明公开了一种针对PLL电路的ATE测试电路及测试方法。该测试电路置于被测PLL电路的外围，包括：测试控制电路，测试开关，一个或一个以上的计数器，与每个计数器对应的比较器，测试结果输出电路。该测试方法包括：（1）配置PLL电路参数和测试控制电路；（2）启动测试开关；（3）计数器进行计数；（4）关闭测试开关；（5）比较器对计数器的输出数值与标准值进行比较；（6）输出测试结果。本发明的测试电路以模块为组织形式，可以在PLL运行过程中对其输出进行有效的测试，并判断PLL输出的正确性，在测试结束时直接输出测试结果，硬件开销小，控制简单，大大降低了ATE所使用的测试向量的复杂度和操作难度。

主权项

一种针对PLL电路的ATE测试电路，其特征在于，该ATE测试电路包括：测试控制电路，用于配置所述ATE测试电路的预定标准值参数；至少一个计数器，其中每个计数器对应PLL电路的一路输出信号，并且每个计数器用于对其所对应的一路输出信号的上下跳变进行计数；至少一个比较器，其中每个比较器对应PLL电路的一路输出信号，并且每个比较器用于将其所对应的计数器的计数结果与相应的标准值参数进行比较；测试开关，用于启动和终止上述计数器的工作；以及测试结果输出电路，用于输出上述比较器的比较结果。