| 发明名称 | 一种光学检测装置及玻璃基板检测系统 | ||
| 摘要 | 本实用新型实施例涉及液晶显示技术领域，特别涉及一种光学检测装置及玻璃基板检测系统，该光学检测装置包括：位于玻璃基板外侧的、沿着所述玻璃基板上表面向至少两个方向发出光线的发光组件，所述发光组件的每个发光面发出的光线均覆盖所述玻璃基板上表面；接收所述发光组件发出的光线的收光组件；与所述收光组件连接，根据所述收光组件接收的光线确定杂质位置的确定组件。本实用新型实施例提供的光学检测装置及玻璃基板检测系统，可以在对玻璃基板进行扫描检测前，确定出玻璃基板表面的杂质，从而保护玻璃基板检测装置。 | ||
| 申请公布号 | CN202083648U | 申请公布日期 | 2011.12.21 |
| 申请号 | CN201120174429.4 | 申请日期 | 2011.05.27 |
| 申请人 | 北京京东方光电科技有限公司 | 发明人 | 白国晓;赵海生;黄雄天;林金升;李毅楠;肖志莲;杨海洪 |
| 分类号 | G01N21/958(2006.01)I | 主分类号 | G01N21/958(2006.01)I |
| 代理机构 | 北京同达信恒知识产权代理有限公司 11291 | 代理人 | 李娟 |
| 主权项 | 一种光学检测装置，其特征在于，包括：位于玻璃基板(2)外侧的、沿着所述玻璃基板(2)上表面向至少两个方向发出光线的发光组件(5)，所述发光组件(5)的每个发光面发出的光线均覆盖所述玻璃基板(2)上表面；接收所述发光组件(5)发出的光线的收光组件(6)；与所述收光组件(6)连接，根据所述收光组件(6)接收的光线确定杂质位置的确定组件(7)。 | ||
| 地址 | 100176 北京市大兴区经济技术开发区西环中路8号 | ||