| 发明名称 | 用于借助x射线辐射对检测对象进行材料检测的装置 | ||
| 摘要 | 本发明涉及一种用于借助x射线辐射对检测对象(15)进行材料检测的装置，该装置包括x射线装置(20)和电子控制装置(38)，该x射线装置具有用于透射被保持在检测位置中的检测对象(15)的x射线源(12)和设计成行探测器的x射线探测器(13)，该电子控制装置布置用于控制所述x射线装置(20)，其中在x射线检测期间，所述检测对象(15)和所述x射线装置(20)能够仅围绕大致竖直的转动轴线(R)相对于彼此转动，其特征在于，所述x射线探测器(13)包括至少两个探测部分(13A，13B，...)，各探测部分设置用于在完整径向截面(52A，52B，...)上检测所述检测对象。 | ||
| 申请公布号 | CN102165308A | 申请公布日期 | 2011.08.24 |
| 申请号 | CN200980137341.0 | 申请日期 | 2009.01.13 |
| 申请人 | GE传感与检测技术有限公司 | 发明人 | J·克拉默;I·施图克;N·布莱特泽克;H·卢克斯;M·维斯滕贝克尔;T·F·古恩泽勒 |
| 分类号 | G01N23/04(2006.01)I;G01M17/013(2006.01)I | 主分类号 | G01N23/04(2006.01)I |
| 代理机构 | 北京市中咨律师事务所 11247 | 代理人 | 吴鹏;马江立 |
| 主权项 | 一种用于借助x射线辐射对检测对象(15)进行材料检测的装置，包括一x射线装置(20)和一电子控制装置(38)，该x射线装置包括一用于透射被保持在检测位置中的检测对象(15)的x射线源(12)和一设计成行探测器的x射线探测器(13)，该电子控制装置设置用于控制所述x射线装置(20)，其中在x射线检测期间，所述检测对象(15)和所述x射线装置(20)能够仅围绕大致竖直的转动轴线(R)相对于彼此转动，其特征在于，所述x射线探测器(13)包括至少两个探测部分(13A，13B，...)，所述探测部分设置用于在完整的径向截面(52A，52B，...)上检测所述检测对象。 | ||
| 地址 | 德国霍尔特 | ||