发明名称 影像感测器及其制造方法
摘要
申请公布号 TWI343122 申请公布日期 2011.06.01
申请号 TW095143350 申请日期 2006.11.23
申请人 台湾积体电路制造股份有限公司 发明人 钱俊逸;萧国裕;蔡嘉雄
分类号 H01L27/14 主分类号 H01L27/14
代理机构 代理人 洪澄文 台北市大安区信义路4段279号3楼;颜锦顺 台北市大安区信义路4段279号3楼
主权项 一种影像感测器,其包括复数个画素,其中至少一画素包括:一半导体基底,具有一感光区;以及一第一电极及一第二电极,嵌入于该半导体基底内,其中该第一及第二电极形成以一阵列排列之复数个狭缝,该些狭缝用以使具有一特定波长的光通过该感光区。如申请专利范围第1项所述之影像感测器,其中该具有特定波长的光包括红、绿及蓝光。如申请专利范围第1项所述之影像感测器,其中该阵列系圆形。如申请专利范围第1项所述之影像感测器,其中该阵列系矩形。如申请专利范围第1项所述之影像感测器,其中该些狭缝之厚度约介于100nm至600nm。如申请专利范围第1项所述之影像感测器,其中该些狭缝之间隔约介于20nm至100nm。如申请专利范围第1项所述之影像感测器,其中该些狭缝之间距约介于180至500nm。如申请专利范围第1项所述之影像感测器,更包括一第二画素,于该第二画素中之狭缝的厚度、间隔及间距至少有一不相同。如申请专利范围第1项所述之影像感测器,其中该第一及第二电极包括一具导电性之金属。如申请专利范围第9项所述之影像感测器,其中该具导电性之金属系选自铜、银及金所组成之群组。如申请专利范围第9项所述之影像感测器,更包括一电压,实施于该第一及第二电极之间,以在感光区内形成电场以感测光。一种影像感测器,包括:一半导体基底;复数个画素,形成于该半导体基底上;以及复数个狭缝,分别嵌入于每个画素中,其中该些狭缝用以使具有一特定波长之光通过该些画素。如申请专利范围第12项所述之影像感测器,其中该些狭缝包括金属。如申请专利范围第12项所述之影像感测器,其中至少一狭缝之厚度约介于100nm至600nm,间隔约介于20nm至100nm,以及间距约介于180至500nm。如申请专利范围第12项所述之影像感测器,其中该些画素系选自光二极体、重置开关电晶体、源极随耦电晶体、铰接感光二极体及传导电晶体所组成之群组。一种影像感测器的制造方法:提供一半导体基底;形成复数个画素于该半导体基底上;以及形成复数个狭缝嵌入于每个画素中,其中该些狭缝用以使具有一波长之光通过该些画素。如申请专利范围第16项所述之影像感测器的制造方法,其中该些狭缝之厚度约介于100nm至600nm,间隔约介于20nm至100nm,以及间距约介于180至500nm。如申请专利范围第16项所述之影像感测器的制造方法,其中该些画素系选自光二极体、重置开关电晶体、源极随耦电晶体、铰接感光二极体及传导电晶体所组成之群组。如申请专利范围第16项所述之影像感测器的制造方法,其中该些狭缝系由一第一电极及一第二电极所形成。如申请专利范围第16项所述之影像感测器的制造方法,更包括实施一电压于该第一及第二电极之间,用以形成电场以感测该波长之光。
地址 新竹市新竹科学工业园区力行六路8号