发明名称 |
一种提高原子荧光检测性能的电路系统及实现方法 |
摘要 |
本发明公开了一种提高原子荧光检测性能的电路系统及实现方法,其系统增加一电流补偿器,通过调节补偿器改变输入放大器的参考电位,并和由光电倍增管接收到的杂散光信号值保持平衡,使得输入放大器的输出为零,达到完全补偿杂散光本底的目的。其方法包括如下步骤:(1)状态设置;(2)原子荧光本底补偿;(3)测试原子荧光值。本发明可将原子荧光检测分析灵敏度和检出限性能提高5倍左右,特别是在高杂散光本底原子荧光分析时具有重要意义,并使得为微弱荧光信号检测成为可能。 |
申请公布号 |
CN102012370A |
申请公布日期 |
2011.04.13 |
申请号 |
CN200910195321.0 |
申请日期 |
2009.09.08 |
申请人 |
上海光谱仪器有限公司 |
发明人 |
陈建钢;刘志高;杨啸涛 |
分类号 |
G01N21/64(2006.01)I |
主分类号 |
G01N21/64(2006.01)I |
代理机构 |
上海天翔知识产权代理有限公司 31224 |
代理人 |
朱妙春 |
主权项 |
一种提高原子荧光检测性能的电路系统,该系统主要包括光电倍增管、电流放大部分、模数转换部分,其特征在于,所述系统中还包括一电流补偿部分,光信号由所述光电倍增管接收放大后,传至电流放大部分,所述电流补偿部分调节改变输入电流放大部分的参考电位,并和由光电倍增管接收到的杂散光信号值保持平衡,使得电流放大部分的输出为零,实现完全补偿杂散光本底;所述电流放大部分将补偿过后的光信号放大后送至模数转换部分进行变换处理。 |
地址 |
201709 上海市青浦区白鹤镇工业园区4小区第4幢24号 |