发明名称 在硅衬底上生长的氮化镓薄膜结构及其生长方法
摘要 本发明公开了一种在硅衬底上生长氮化镓薄膜的方法,包括如下步骤:选择硅衬底;采用金属有机物汽相外延方法,在硅衬底上生长一层铝;在硅衬底上生长铝后生长一层氮化铝成核层;在该氮化铝成核层上生长铝和氮化铝的超晶格;在铝和氮化铝的超晶格上生长四层氮化镓层;在氮化镓生长过程中,降低温度,插入三层氮化铝层;最后改变生长室气压,生长一层氮化镓层。利用本发明,通过控制生长条件,如温度、压力以及生长氮化镓的缓冲层结构设计方面的改进,在硅衬底上外延生长出了氮化镓薄膜。
申请公布号 CN101515543B 申请公布日期 2010.08.25
申请号 CN200810057890.4 申请日期 2008.02.20
申请人 中国科学院半导体研究所 发明人 王晓亮;罗卫军;郭伦春;肖红领;李建平;李晋闽
分类号 H01L21/20(2006.01)I;H01L23/00(2006.01)I 主分类号 H01L21/20(2006.01)I
代理机构 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人 周国城
主权项 一种在硅衬底上生长氮化镓薄膜的方法,其特征在于,包括如下步骤:选择硅衬底;采用金属有机物汽相外延方法,在硅衬底上生长一层铝;在硅衬底上生长铝后生长一层氮化铝成核层;在该氮化铝成核层上生长铝和氮化铝的超晶格;在铝和氮化铝的超晶格上生长四层氮化镓层;在氮化镓生长过程中,降低温度,插入三层氮化铝层;最后改变生长室气压,生长一层氮化镓层。
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