发明名称 |
在硅衬底上生长的氮化镓薄膜结构及其生长方法 |
摘要 |
本发明公开了一种在硅衬底上生长氮化镓薄膜的方法,包括如下步骤:选择硅衬底;采用金属有机物汽相外延方法,在硅衬底上生长一层铝;在硅衬底上生长铝后生长一层氮化铝成核层;在该氮化铝成核层上生长铝和氮化铝的超晶格;在铝和氮化铝的超晶格上生长四层氮化镓层;在氮化镓生长过程中,降低温度,插入三层氮化铝层;最后改变生长室气压,生长一层氮化镓层。利用本发明,通过控制生长条件,如温度、压力以及生长氮化镓的缓冲层结构设计方面的改进,在硅衬底上外延生长出了氮化镓薄膜。 |
申请公布号 |
CN101515543B |
申请公布日期 |
2010.08.25 |
申请号 |
CN200810057890.4 |
申请日期 |
2008.02.20 |
申请人 |
中国科学院半导体研究所 |
发明人 |
王晓亮;罗卫军;郭伦春;肖红领;李建平;李晋闽 |
分类号 |
H01L21/20(2006.01)I;H01L23/00(2006.01)I |
主分类号 |
H01L21/20(2006.01)I |
代理机构 |
中科专利商标代理有限责任公司 11021 |
代理人 |
周国城 |
主权项 |
一种在硅衬底上生长氮化镓薄膜的方法,其特征在于,包括如下步骤:选择硅衬底;采用金属有机物汽相外延方法,在硅衬底上生长一层铝;在硅衬底上生长铝后生长一层氮化铝成核层;在该氮化铝成核层上生长铝和氮化铝的超晶格;在铝和氮化铝的超晶格上生长四层氮化镓层;在氮化镓生长过程中,降低温度,插入三层氮化铝层;最后改变生长室气压,生长一层氮化镓层。 |
地址 |
100083 北京市海淀区清华东路甲35号 |