| 发明名称 | 用于记录发光二极管特征曲线的系统和方法 | ||
| 摘要 | 本发明涉及用于操作包括至少一个发光二极管(2)的发光二极管装置(1)的系统。所述系统包括检测通过所述发光二极管装置的电流和所述发光二极管装置上的电压降的检测装置，和根据检测装置的信息确定发光二极管装置的发光二极管的数量和/或颜色的装置。这尤其可以基于发光二极管装置的动态电阻和/或发光二极管装置的U/I特征曲线的温度依赖性来执行。本发明还涉及用于不需要光学测量而确定发光二极管装置的数量和/或颜色的方法。 | ||
| 申请公布号 | CN101743780A | 申请公布日期 | 2010.06.16 |
| 申请号 | CN200880021831.X | 申请日期 | 2008.06.20 |
| 申请人 | 三多尼克爱特克瑞士有限公司 | 发明人 | 迈克尔·齐默尔曼;爱德华多·佩雷拉 |
| 分类号 | H05B33/08(2006.01)I;G01R31/26(2006.01)I | 主分类号 | H05B33/08(2006.01)I |
| 代理机构 | 北京市京大律师事务所 11321 | 代理人 | 李光松;盛东生 |
| 主权项 | 一种用于操作包括至少一个发光二极管(2)的发光二极管装置(1)的系统，包括：记录装置，用于记录通过所述发光二极管装置的电流和所述发光二极管装置两端的电压降，用于通过使用来自于所述记录装置的信息，尤其参考所述发光二极管装置的动态电阻和/或所述发光二极管装置的U/I特征曲线的温度依赖性，来确定所述发光二极管装置中的发光二极管的数量和/或颜色的装置。 | ||
| 地址 | 瑞士恩内达 | ||