| 摘要 |
<p>Die vorliegende Erfindung betrifft eine Vorrichtung zum Detektieren einer defekten OLED, wobei eine intakte OLED eine I/U-Kennlinie aufweist, umfassend eine Teststromquelle, die ausgelegt ist, einen Strom (IOLED) an die OLED bereitzustellen, dessen Stärke unterhalb des Stromes am Einsatzpunkt (E) einer intakten OLED liegt, wobei der Einsatzpunkt (E) definiert ist als der Punkt, an dem eine Tangente an die I/U-Kennlinie einer intakten OLED die Spannungsachse schneidet, eine Referenzspannungsvorrichtung (V1), die ausgelegt ist, eine vorgebbare Referenzspannung (CT) bereitzustellen, und eine Vergleichsvorrichtung (V2), die einen ersten Eingang aufweist, der mit der OLED gekoppelt ist zur Zuführung einer Spannung, die mit der über der OLED abfallenden Spannung korreliert ist, sowie einen zweiten Eingang, der mit der Referenzspannungsvorrichtung (V1) zur Zuführung der Referenzspannung (CT) gekoppelt ist, wobei die Vergleichsvorrichtung (V2) ausgelegt ist, an ihrem Ausgang ein erstes Signal auszugeben, wenn die am ersten Eingang zugeführte Spannung größer als die am zweiten Eingang zugeführte Spannung ist, und ein zweites Signal auszugeben, wenn die am ersten Eingang zugeführte Spannung kleiner als die am zweiten Eingang zugeführte Spannung ist. Die vorliegende Erfindung betrifft überdies ein entsprechendes Verfahren zum Detektieren einer defekten OLED.</p> |
