用于分析反射特性的方法

摘要

本发明涉及一种用于分析和描述三维结构的原始表面的反射特性的方法。根据所述方法，确定该原始表面的拓扑结构，将拓扑数据以一个深度图的形式存储在第一数据记录中，并且就所述数据对反射特性的影响进行评估。根据所述评估，每个表面元素被分配一个反射值并且将该值存储在第二数据记录中并使之可供其他加工或检测系统使用。

主权项

1. 用于以数据记录的形式分析和描述三维结构原始表面尤其是压纹表面的反射特性的方法，该方法可用于表面加工系统或测试系统，所述方法的特征在于a)首先借助三维扫描方法确定原始表面的拓扑结构，并且在第一数据记录中存储如此确定的并且实质上包括高度值和深度值的拓扑数据，这些值属于跨越原始表面的光栅扫描的每个表面元素，为每个表面元素或光栅扫描元素分配一个测得的深度值从而产生原始表面的深度图，b)对第一数据记录进行与深度值对反射特性的影响有关的深度值评定，c)根据所述评定，对每个表面元素分配一个反射值，并且将反射值存储在第二数据记录中，此后，使包含了分配给每个表面元素的反射值的第二数据记录可用于进一步的加工系统或测试系统。