发明名称 | 非接触测量系统和方法 | ||
摘要 | 提供一种用于复杂零件(15)非接触测量的系统和方法,该方法包括利用至少一个成像装置(11)获取包括施加到复杂零件上的激光线的复杂零件的图像,确定是代表复杂零件的至少一部分的并包含与复杂零件表面的多个尺寸有关的信息的复杂零件的感兴趣范围,从感兴趣范围提取对应于激光线的信息以减少计算以及进一步从对应于激光线的信息提取多个特征点,多个特征点代表表面的多个尺寸。多个特征点用于重构复杂零件表面的三维(3D)表示。 | ||
申请公布号 | CN100442012C | 申请公布日期 | 2008.12.10 |
申请号 | CN200410031261.6 | 申请日期 | 2004.03.26 |
申请人 | 通用电气公司 | 发明人 | R·科库;G·W·布洛科斯比;P·H·屠 |
分类号 | G01B21/00(2006.01) | 主分类号 | G01B21/00(2006.01) |
代理机构 | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人 | 吴立明;张志醒 |
主权项 | 1.一种用于复杂零件非接触测量的方法,该方法包括:利用至少一个成像装置获取包括施加到复杂零件上的激光线的复杂零件的图像;确定复杂零件的感兴趣范围;在所述感兴趣范围内扫描多行,其中所述多行中的每一行包括多个像素;通过将每个像素的强度值和相邻像素的强度值连续比较,检测多个峰值;为所述多个峰值的每一个生成上升强度值点、最大强度值点和下降强度值点,并平衡所述上升强度值点和所述下降强度值点以便为所述多个峰值的每一个生成底脚强度值点;以及利用所述上升强度值点、所述最大强度值点、所述下降强度值点和所述底脚强度值点为所述多个峰值的每一个从对应于激光线的信息提取多个特征点,多个特征点代表表面的多个尺寸。 | ||
地址 | 美国纽约州 |