| 发明名称 | 记忆体之测试方法 | ||
| 摘要 | 一种记忆体测试方法，包括：(a)调整记忆体之相关参数，以选定一特定之工作模式；(b)在记忆体之各个储存位置中，填入各个储存位置之地址；(c)在记忆体之各个储存位置中，填入0或1；(d)将一预设之测试数据，依序填入记忆体之各个储存位置；(e)将一预设之测试数据，以一预设模数（module）为差值逐步增加，依序填入记忆体之各个储存位置；(f)随着记忆体之各个储存位置地址之递增，依序填入相对应之测试数据。 | ||
| 申请公布号 | TW200816211 | 申请公布日期 | 2008.04.01 |
| 申请号 | TW095134649 | 申请日期 | 2006.09.19 |
| 申请人 | 英华达股份有限公司 | 发明人 | 王琪 |
| 分类号 | G11C29/08(2006.01) | 主分类号 | G11C29/08(2006.01) |
| 代理机构 | 代理人 | 李长铭 | |
| 主权项 | |||
| 地址 | 台北县五股工业区五工五路37号 | ||