发明名称 具有P-MOS装置电极之添加物的导电金属氧化物CONDUCTING METAL OXIDE WITH ADDITIVE AS P-MOS DEVICE ELECTRODE
摘要 本发明提供一种制造高功函数p–MOS装置(10)金属电极的方法。在一具体实施例中,一提供用于制造一金属电极(13)的方法包括步骤:提供一具有一曝露表面的高k值介电堆叠(12);使该高k值介电堆叠之该曝露表面与一金属氧化物的蒸气接触,其中该金属氧化物包含选自RuOx、IrOx、ReOx、MoOx、WOx、VOx、及PdOx所组成的群组;及使该介电堆叠(12)之该曝露表面与一选自SiO2,、Al2O3,、HfO2、ZrO2、MgO、SrO、BaO、Y2O3、La2O3、及TiO2所组成群组之添加物的蒸气接触,藉以使该介电堆叠(12)之该曝露表面与该金属氧化物的蒸气及该添加物的蒸气接触而形成一电极(13),且其中该添加物在该电极(13)内的原子重量百分比含量在约1%至约50%之间。
申请公布号 TW200703458 申请公布日期 2007.01.16
申请号 TW095108016 申请日期 2006.03.09
申请人 飞思卡尔半导体公司 发明人 梁永;克拉伦斯J 崔西
分类号 H01L21/20(2006.01) 主分类号 H01L21/20(2006.01)
代理机构 代理人 陈长文
主权项
地址 美国