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发明名称
积体电路封装构造测试方法
摘要
一种积体电路封装构造测试方法,此方法包含:提供一测试板与一积体电路封装构造;将积体电路封装构造设置于该测试板上,其中积体电路封装构造与测试板电性连接;及对该积体电路封装构造同时施加一温度循环测试以及电流导通。
申请公布号
TW200703685
申请公布日期
2007.01.16
申请号
TW094122922
申请日期
2005.07.06
申请人
日月光半导体制造股份有限公司
发明人
黄东鸿;李长祺
分类号
H01L31/0203(2006.01)
主分类号
H01L31/0203(2006.01)
代理机构
代理人
许世正
主权项
地址
高雄市楠梓加工出口区经三路26号
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