发明名称 积体电路封装构造测试方法
摘要 一种积体电路封装构造测试方法,此方法包含:提供一测试板与一积体电路封装构造;将积体电路封装构造设置于该测试板上,其中积体电路封装构造与测试板电性连接;及对该积体电路封装构造同时施加一温度循环测试以及电流导通。
申请公布号 TW200703685 申请公布日期 2007.01.16
申请号 TW094122922 申请日期 2005.07.06
申请人 日月光半导体制造股份有限公司 发明人 黄东鸿;李长祺
分类号 H01L31/0203(2006.01) 主分类号 H01L31/0203(2006.01)
代理机构 代理人 许世正
主权项
地址 高雄市楠梓加工出口区经三路26号