Semiconductor memory device having clock generating circuit capabling of input test signal via out pin,申请号KR20000084157-传众专利搜索

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发明名称	Semiconductor memory device having clock generating circuit capabling of input test signal via out pin
摘要
申请公布号	KR100652367(B1)	申请公布日期	2006.11.30
申请号	KR20000084157	申请日期	2000.12.28
申请人		发明人
分类号	G11C8/00	主分类号	G11C8/00
代理机构		代理人
主权项
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