发明名称 Test pattern in flash memory device
摘要
申请公布号 KR100624915(B1) 申请公布日期 2006.09.18
申请号 KR20040001647 申请日期 2004.01.09
申请人 发明人
分类号 H01L27/115 主分类号 H01L27/115
代理机构 代理人
主权项
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