发明名称 Systems and slurries for chemical mechanical polishing
摘要 Systems and methods are disclosed for polishing a semiconductor substrate having a polymer film surface deposited thereon by chemishearing the surface; and performing chemical mechanical polishing (CMP) on the chemisheared surface.
申请公布号 US7052373(B1) 申请公布日期 2006.05.30
申请号 US20050038514 申请日期 2005.01.19
申请人 ANJI MICROELECTRONICS CO., LTD. 发明人 YANG ANDY CHUNXIAO;YU CHRIS CHANG
分类号 B24B1/00 主分类号 B24B1/00
代理机构 代理人
主权项
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