参考电压发生装置及半导体集成电路、其检查装置及方法

摘要

本发明提供一种参考电压发生装置和具有它的半导体集成电路、半导体集成电路的检查装置及其检查方法。本发明的半导体集成电路的检查装置包括对液晶驱动器(LSI)的输出电压电平是否良好进行判断的差动放大器阵列模块和检验器；期待值电压发生器，该期待值电压发生器对应于期待值数据，产生期待值电压，将其输出给上述差动放大器阵列模块。其数量比所发生的期待值电压的数量少的期待值数据输入到上述期待值电压发生器中，根据已输入的期待值数据，以内插方式产生期待值数据，以便形成与期待值电压的数量相同的数量。由此，可在极短的时间，以较高精度，实施被检验器件(液晶驱动器LSI)的输出电压的检验。

主权项

1.一种参考电压发生装置(13)，该参考电压发生装置(13)对应于所输入的参考数据，产生参考电压，其特征在于：其包括参考数据发生单元(33)，其数量比所发生的参考电压的数量少的参考数据输入到该参考数据发生单元(33)中，根据已输入的参考数据，以内插方式产生参考数据，以便形成与参考电压的数量相同的数量。