发明名称 | 半导体器件的制造方法 | ||
摘要 | 本发明提供半导体器件的制造方法,包括以下步骤:在衬底上形成半导体薄膜;通过照射YVO<SUB>4</SUB>激光器的二次谐波,使半导体薄膜结晶;构图结晶的半导体薄膜,以形成岛状半导体。或者,可以通过照射YVO<SUB>4</SUB>激光器的具有线性形状的二次谐波使半导体薄膜结晶。也可以先构图半导体薄膜以形成岛状半导体,然后照射YVO<SUB>4</SUB>激光器的二次谐波,以使岛状半导体薄膜结晶。在这里,YVO<SUB>4</SUB>激光器的二次谐波的照射面的形状具有等于或大于10的纵横比。或者,在衬底上形成绝缘膜,在绝缘膜上形成半导体薄膜,通过照射YVO<SUB>4</SUB>激光器的二次谐波,使半导体薄膜结晶,构图结晶的半导体薄膜以形成岛状半导体薄膜,其中绝缘膜含有至少一种选自氧化硅、氮氧化硅和氮化硅的材料。 | ||
申请公布号 | CN1737996A | 申请公布日期 | 2006.02.22 |
申请号 | CN200510099847.0 | 申请日期 | 2000.08.14 |
申请人 | 株式会社半导体能源研究所 | 发明人 | 山崎舜平;大谷久;田中幸一郎;笠原健司;河崎律子 |
分类号 | H01L21/20(2006.01) | 主分类号 | H01L21/20(2006.01) |
代理机构 | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人 | 胡强 |
主权项 | 1.半导体器件的制造方法,包括以下步骤:在衬底上形成半导体薄膜;通过照射YVO4激光器的二次谐波,使该半导体薄膜结晶;构图结晶的所述半导体薄膜,以形成岛状半导体。 | ||
地址 | 日本神奈川县 |