发明名称 半导体器件的制造方法
摘要 本发明提供半导体器件的制造方法,包括以下步骤:在衬底上形成半导体薄膜;通过照射YVO<SUB>4</SUB>激光器的二次谐波,使半导体薄膜结晶;构图结晶的半导体薄膜,以形成岛状半导体。或者,可以通过照射YVO<SUB>4</SUB>激光器的具有线性形状的二次谐波使半导体薄膜结晶。也可以先构图半导体薄膜以形成岛状半导体,然后照射YVO<SUB>4</SUB>激光器的二次谐波,以使岛状半导体薄膜结晶。在这里,YVO<SUB>4</SUB>激光器的二次谐波的照射面的形状具有等于或大于10的纵横比。或者,在衬底上形成绝缘膜,在绝缘膜上形成半导体薄膜,通过照射YVO<SUB>4</SUB>激光器的二次谐波,使半导体薄膜结晶,构图结晶的半导体薄膜以形成岛状半导体薄膜,其中绝缘膜含有至少一种选自氧化硅、氮氧化硅和氮化硅的材料。
申请公布号 CN1737996A 申请公布日期 2006.02.22
申请号 CN200510099847.0 申请日期 2000.08.14
申请人 株式会社半导体能源研究所 发明人 山崎舜平;大谷久;田中幸一郎;笠原健司;河崎律子
分类号 H01L21/20(2006.01) 主分类号 H01L21/20(2006.01)
代理机构 中国专利代理(香港)有限公司 代理人 胡强
主权项 1.半导体器件的制造方法,包括以下步骤:在衬底上形成半导体薄膜;通过照射YVO4激光器的二次谐波,使该半导体薄膜结晶;构图结晶的所述半导体薄膜,以形成岛状半导体。
地址 日本神奈川县