发明名称 Circuit for inspecting a data error
摘要 A circuit for inspecting a data error is described herein. The circuit for inspecting a data error comprises a clock buffer, a buffer unit, a latch unit, a decoder, a compression unit, a counter, a data bus signal latch unit, and a select unit.
申请公布号 US6912677(B2) 申请公布日期 2005.06.28
申请号 US20020294202 申请日期 2002.11.14
申请人 HYNIX SEMICONDUCTOR INC. 发明人 SONG DAE SIK
分类号 G06F11/00;G11C29/40;(IPC1-7):G11C29/00 主分类号 G06F11/00
代理机构 代理人
主权项
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