发明名称 移除深沟渠结构中半球形晶粒矽层之方法
摘要 一种移除深沟渠结构中半球形晶粒矽之方法,其利用一埋藏矽锗层做为蚀刻终止层,并以湿蚀刻制程移除半球形晶粒矽。湿蚀刻制程所用之氢氧化钾/丙酮/水混合液对半球形晶粒矽与埋藏矽锗层的蚀刻速率选择性很高,因此在移除半球形晶粒矽时,不会破坏沟渠侧壁。此外,利用此法制得之沟渠式电容结构,在半球形晶粒矽层与沟渠下半部之间并没有蚀刻终止层,故无储存电容降低的问题。
申请公布号 TW200516696 申请公布日期 2005.05.16
申请号 TW092131135 申请日期 2003.11.06
申请人 茂德科技股份有限公司 发明人 巫勇贤
分类号 H01L21/76 主分类号 H01L21/76
代理机构 代理人 蔡坤财
主权项
地址 新竹市新竹科学工业园区力行路19号3楼