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Ein Verfahren zum Abtasten eines Signals, das von einer Feldzelle in einem Speicherfeld empfangen wird, wobei das Verfahren die Schritte aufweist: Erzeugen einer Analogspannung Vddr, die proportional zu einem Strom einer ausgewählten Feldzelle des Speicherfelds ist, und Vergleichen der Analogspannung Vddr mit einer Bezugsanalogspannung Vcomp, um ein Ausgangsdigitalsignal bereitzustellen. Es wird auch ein Verfahren zum Abtasten einer Speicherzelle durch Transformieren eines Signals aus einer Speicherzelle in eine Zeitverzögerung, und zum Abtasten der Speicherzelle durch Vergleichen der Zeitverzögerung mit einer Zeitverzögerung einer Bezugszelle bereitgestellt. Es wird auch eine betreffende Vorrichtung offenbart.
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