PROCEDIMIENTO DE ANALISIS FUNCIONAL DE SEMICONDUCTORES ALIMENTADOS INALAMBRICAMENTE

摘要

Procedimiento de análisis funcional de semiconductores alimentados inalámbricamente. Se describe un procedimiento para analizar semiconductores alimentados inalámbricamente en estado de condiciones de trabajo, es decir el análisis es funcional y permite obtener datos reales del componente en aquellas condiciones en las que será sometido cuando esté funcionando. Se basa en la toma de datos relacionados con las temperaturas que se producen en el semiconductor cuando se encuentra operativo, es decir se toman datos referidos a la hipertermia inducida por el paso de corriente por el semiconductor en funcionamiento. La señal que alimenta el componente semiconductor se somete, mientras se está alimentando y se están tomando datos de su temperatura, a una serie de modulaciones que generan una serie de efectos en su superficie, nos permite ver reacciones a las modulaciones y obtener datos como fallos o puntos de interés relacionados con el semiconductor mientras se encuentra en funcionamiento.