发明名称 Verfahren zur Untersuchung von kurzzeitigen elektrischen Vorgaengen, insbesondere von Schaltvorgaengen mit Lichtbogenbildung
摘要
申请公布号 DE540545(C) 申请公布日期 1931.12.19
申请号 DE1927S083136D 申请日期 1927.12.13
申请人 SIEMENS-SCHUCKERTWERKE AKT.-GES. 发明人 HAAKE DIPL.-ING. WILHELM
分类号 G01R13/30 主分类号 G01R13/30
代理机构 代理人
主权项
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