发明名称 Verfahren zum Auffüllen von Vertiefungen in einer Oberfläche einer Halbleiterstruktur und eine auf diese Weise aufgefüllte Halbleiterstruktur
摘要 Auf einer Halbleiterstruktur wird in Vertiefungen auf der Oberfläche, insbesondere unterhalb der ersten Metallstrukturebene, eine Diffusionsbarriereschicht, vorzugsweise mit Hilfe einer plasmaunterstützten Gasphasenabscheidung, bei der die im Plasma enthaltenen Ionen senkrecht zur Oberfläche beschleunigt werden, abgeschieden, so dass sich eine nicht konforme Abscheidung der Diffusionsbearriereschicht ergibt.
申请公布号 DE10010286(A1) 申请公布日期 2001.09.13
申请号 DE20001010286 申请日期 2000.02.25
申请人 INFINEON TECHNOLOGIES AG 发明人 KIRCHHOFF, MARKUS
分类号 C23C16/04;C23C16/507;H01L21/314;H01L21/316;H01L21/318;(IPC1-7):H01L21/316 主分类号 C23C16/04
代理机构 代理人
主权项
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