发明名称 |
Verfahren zur Herstellung integrierter Sensoren |
摘要 |
Aussparungen oder Vertiefungen werden in der Oberseite eines Halbleiterkörpers ausgeätzt und Sensorkomponenten darin hergestellt, die etwa zur Hälfte versenkt sind. Elektronische Bauelemente werden in dem restlichen Bereich der Oberseite des Halbleiterkörpers hergestellt, wobei diese ggf. mit einer Schutzschicht abgedeckt werden, falls die Aussparung oder Vertiefung erst nachträglich hergestellt wird.
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申请公布号 |
DE19940581(C2) |
申请公布日期 |
2001.07.26 |
申请号 |
DE19991040581 |
申请日期 |
1999.08.26 |
申请人 |
INFINEON TECHNOLOGIES AG |
发明人 |
AIGNER, ROBERT;KAPELS, HERGEN;MECKES, ANDREAS;OPPERMANN, KLAUS-GUENTER |
分类号 |
B81B3/00;B81B7/02;H01L27/06;(IPC1-7):H01L21/822;H01L21/823;B81C1/00 |
主分类号 |
B81B3/00 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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