发明名称 MEASURING DEVICE
摘要 Die Erfindung bezieht sich auf eine Messvorrichtung (1) zur Ermittlung der Dicke einer Schicht (20), welche auf ein Bauelement (100) aufgetragen ist. Die Bestimmung der Dicke erfolgt berührungs- und zerstörungsfrei unabhängig davon, aus welchem Material die Schicht (20) gefertigt ist. Hierfür ist eine elektromagnetische Strahlungsquelle (2) vorgesehen, die Strahlung im infraroten Bereich emittiert. Die Strahlungsquelle (2), die als Festkörperlaser ausgebildet ist, steht über wenigstens einen Lichtwellenleiter (4) mit einer Sensoreinheit (8) in Verbindung. Mittels derer kann die Schicht (20) mit der infraroten Strahlung abgetastet werden. Mit einem Detektor (5), der in die Sensoreinheit (8) integriert sein kann, wird die Wärmestrahlung erfasst, welche von der Schicht (20) emittiert wird. Aus den Messsignalen wird in einer Auswerteeinheit (11), in der Vergleichswerte gespeichert sind, die Dicke der Schicht (20) ermittelt.
申请公布号 WO0144752(A1) 申请公布日期 2001.06.21
申请号 WO2000EP12831 申请日期 2000.12.15
申请人 ABB RESEARCH LTD.;SOPKA, JOERG;MILANOVIC, RAIKO;TREIBERT, DIETMAR;SCHLAGENHAUF, FRANK;HUBER, PAUL;SCHMITZ, BERNHARD 发明人 SOPKA, JOERG;MILANOVIC, RAIKO;TREIBERT, DIETMAR;SCHLAGENHAUF, FRANK;HUBER, PAUL;SCHMITZ, BERNHARD
分类号 G01B11/06;G01B21/08;(IPC1-7):G01B11/06 主分类号 G01B11/06
代理机构 代理人
主权项
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