发明名称 利用栅极感应漏极漏电流的快闪存储单元
摘要 一种快闪存储单元,包括形成于基底中的p井及形成于p井上方的栅极结构。栅极结构包括控制栅与浮栅,浮栅通过一层薄介电层与控制栅和半导体基底电隔离。n<SUP>-</SUP>基极邻接栅极结构的第一边缘且延伸至栅极结构下,在n<SUP>-</SUP>基极中且邻接于栅极结构的第一边缘形成p<SUP>+</SUP>结构,n<SUP>+</SUP>结构与栅结构的第二边缘相邻。由此结构可通过带对带隧道效应,在p<SUP>+</SUP>结构表面产生的热电子来执行存储单元编码的操作。抹除操作是利用F-N隧道穿透n<SUP>-</SUP>基极区域来执行的。
申请公布号 CN1252622A 申请公布日期 2000.05.10
申请号 CN98117064.1 申请日期 1998.12.10
申请人 世大积体电路股份有限公司 发明人 季明华;陈志民
分类号 H01L27/10;H01L27/115 主分类号 H01L27/10
代理机构 柳沈知识产权律师事务所 代理人 陶凤波
主权项 1.一种快闪存储单元,适用于一半导体基底中,其特征在于,该快闪存储单元包括:一p井,形成于该基底中;一栅极结构,形成于该p井上方,该栅极结构包括一控制栅及一浮栅,且通过一薄的介电层将该浮栅与该控制栅和该半导体基底电隔离;一n-基极,邻接该栅极结构的一第一边缘且延伸至该栅极结构之下,位于该基底中;一p+结构,该p+结构形成于该n-基极之中且邻接于该栅极结构的该第一边缘;以及一n+结构,该n+结构与该栅极结构的一第二边缘相邻且位于该基底中。
地址 台湾省新竹科学工业园区