发明名称 Semiconductor Device and Manufacturing Method Thereof
摘要 <p>반도체 디바이스의 제조에 있어서, 칩의 내부 또는 주변부에서의 스퍼터막 커버리지 불량으로 인해 막이 벗겨지는 것을 방지하는 것을 목적으로 한다. 반도체 기판(10)의 표면에서 칩 영역(2)을 구획하는 홈부(1)를 이 홈부 측벽의 윤곽이 볼록부 또는 오목부를 갖도록 형성하고, 그후, 칩 영역(2)의 표면에서 홈부(1)의 내면으로 연속하여 스퍼터막(5)을 형성하며, 홈부(1)의 외측을 따라 반도체 기판을 다이싱한다.</p>
申请公布号 KR19990087850(A) 申请公布日期 1999.12.27
申请号 KR19990001950 申请日期 1999.01.22
申请人 null, null 发明人 타야마사토시;오노타키오;무라타나오후미
分类号 H01L21/285;H01L21/203;H01L21/301;H01L21/768;H01L21/78;H01L29/00 主分类号 H01L21/285
代理机构 代理人
主权项
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