工件之位置检测装置

摘要

本发明之目的在于提供一种可以低价格、高速及高精度，实行位置检测之工件之位置检测装置者。其系：在工件１之定位孔２之被正规定位之位置之一方侧，配置雷射光源３，并在其另方侧配置与雷射光源３相对之二次元位置检知元件４，使雷射光源３之通过定位孔２之点光（ｓｐｏｔ ｌｉｇｈｔ）７，以二次元位置检知元件４加以接收，并将二次元位置检知元件４所产生之四个光电流Ｉｘ１、Ｉｘ２、Ｉｙ１、Ｉｙ２以演算回路１２施以演算处理，而算出定位孔２之偏移量。

主权项

1.一种工件之位置检测装置,其特征在于:在工件之定位孔之正规定之位置之一方侧,配置雷射光源,并在其另方侧配置与雷射光源相对之半导体受光元件,使雷射光源之通过定位孔之光,以前述半导体受光元件加以接收,并将半导体受光元件所产生之四个光电流以演算回路施以演算处理,而算出定位孔之偏移量。2.依申请专利范围第1项之工件之位置检测装置,其中半导体受光元件,系为二次元位置检知元件或分成四部份之光电二极体。3.一种工件之位置检测装置,其特征在于:在工件之定位孔之正规定之位置之一方侧,配置四个投光器,并在其另方侧配置与前述投光器相对之光纤感应器,使前述光源之通过定位孔之光,以前述四个光纤感应器加以接收,而将光纤感应器所产生之电流以演算回路施以演算处理,而算出定位孔之偏移量。图示简单说明:第一图为本发明之工件之位置检测装置之第一实施例之方块图。第二图为二次元位置检知元件之上视图。第三图为本发明之工件之位置检测装置之第二实施例之方块图。第四图为本发明之工件之位置检测装置之第三实施例,(a)为上视图,(b)为部份断面正视图。