发明名称 检查装置
摘要 一种利用脉冲压缩技术的检查装置,其中信号发生器产生一个含有信号Sap(t)、Saq(t)、Sbp(t)和Sbq(t)的复合发射信号,并通过探头将复合发射信号发射到物体。第一相关器对回波信号Rap(t)、Raq(t)、Rbp(t)和Rbq(t)进行相关操作,以提供相关结果Caap(t)、Caaq(t)、Cbbp(t)和Cbbq(t)。第二相关器对上述相关结果Caap(t)、Caaq(t)、Cbbp(t)和Cbbq(t)。再进行相关操作,以提供压缩脉冲Caapp(t)、Caaqq(t)、Cbbpp(t)和Cbbqq(t)。这些结果由加法器相加,以提供一个具有幅度大的主瓣和幅度小的旁瓣的复合压缩脉冲C。
申请公布号 CN1071758A 申请公布日期 1993.05.05
申请号 CN91109923.9 申请日期 1991.10.14
申请人 三菱电机株式会社 发明人 和高修三;永勉;三须幸一郎;小池光裕
分类号 G01N29/10;G01N29/22;G01N22/02;H03K5/00 主分类号 G01N29/10
代理机构 上海专利事务所 代理人 沈昭坤
主权项 1、一种检查装置,其特征在于包括:用来产生以相应第一和第二序列{a}和{b}为基础的第一和第二基本单元信号ga(t)和gb(t),和包括依次排列的分别以所述信号ga(t)与第三序列(p),所述信号ga(t)与第四序列{q},所述信号gb(t)与所述序列(p)以及所述信号gb(t)与所述序列{q}为基础的第一至第四发射信号Sap(t)、Saq(t)、Sbp(t)和Sbq(t)的一个合成发射信号S的发生器装置;用来发射由所述发生器装置产生的复合发射信号S至物体的发射装置;用来接收从所述物体反射的回波,以提供一个由与所述各个发射信号Sap(t)、Saq(t)、Sbp(t)和Sbq(t)相对应的第一至第四回波信号Rap(t)、Raq(t)、Rbp(t)和Rbq(t)组成的复合回波信号R的接收装置;用来对由所述接收装置通过利用一个以所述序列{a}为基础的第一基准信号Ua(t)所提供的所述回波信号Rap(t)和Raq(t)进行相关处理,以提供第一和第二相关结果Caap(t)和Caaq(t)和用来对由所述接收装置通过利用一个以所述序列{b}为基础的第二基准信号Ub(t)所提供的所述回波信号Rbp(t)和Rbq(t)进行相关处理,以提供第三和第四相关结果Cbbp(t)和Cbbq(t)的第一相关器装置;用来对由所述第一相关器装置通过利用一个以所述序列{p}为基础的第三基准信号Up(t)所提供的所述结果Caap(t)和Cbbp(t)进行相关处理,以提供第一和第二压缩脉冲Caapp(t)和Cbbpp(t)和用来对由所述第一相关器装置通过利用一个以所述序列(q)为基础的第四基准信号Uq(t)所提供的所述结果Caaq(t)和Cbbq(t)进行相关处理,以提供第三和第四压缩脉冲Caaqq(t)和Cbbqq(t)的第二相关器装置;以及用来对由所述第二相关器装置所提供的所述压缩脉冲Caapp(t)、Cbbpp(t)、Caaqq(t)和Cbbqq(t)进行相加,以提供一个复合压缩脉冲C,并借此使所述复合压缩脉冲C的主瓣电平令人满意的变大,而使其旁瓣电平实际上成为零的加法器装置。
地址 日本东京都