发明名称 Semiconductor lead planarity checker
摘要 The planarity of semiconductor device pins is measured simultaneously by multiple pneumatic comparator circuits by detecting pressure changes proportional to pin position.
申请公布号 US5163232(A) 申请公布日期 1992.11.17
申请号 US19900481000 申请日期 1990.02.16
申请人 TEXAS INSTRUMENTS INCORPORATED 发明人 GONZALES, JR., DAVID;CHIU, ANTHONY M.
分类号 H05K13/08 主分类号 H05K13/08
代理机构 代理人
主权项
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