发明名称 |
PROCEDE ET APPAREIL DE DIAGNOSTIC DE DEFAUTS SUR UNE CARTE DE CIRCUIT |
摘要 |
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申请公布号 |
FR2619926(B1) |
申请公布日期 |
1992.09.25 |
申请号 |
FR19880010995 |
申请日期 |
1988.08.18 |
申请人 |
TERADYNE INC |
发明人 |
ROBERTO GONZALEZ;LAWRENCE STEVEN APFELBAUM |
分类号 |
G01R31/02;G01R31/28;(IPC1-7):G01R31/26 |
主分类号 |
G01R31/02 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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