发明名称 Process and apparatus for manufacturing conductive layers or structures for highly integrated circuits.
摘要 Bei einem Verfahren zur Herstellung von leitenden Schichten oder Strukturen für höchstintegrierte Schaltungen werden mindestens zwei Verfahrensstufen direkt hintereinander in verschiedenen Kammern (1 bis 6) einer Hochvakuum-Anlage ausgeführt, ohne die Hochvakuum-Bedingungen für das Halbleitersubstrat zu unterbrechen. Die Vermeidung einer Exposition an Luft zwischen den Verfahrensstufen liefert deutlich bessere Schichteigenschaften und ermöglicht insbesondere einfache und zuverlässige mehrstufige Verfahren zur Herstellung von leitenden Schichten, die eine Mehrlagenverdrahtung auf dem Halbleitersubstrat unterstützen. Eine verwendete Vorrichtung besteht aus mehreren Hochvakuum-Prozeßkammern (1 bis 6), mindestens einer die Prozeßkammern verbindenden Hochvakuum-Verteilerkammer (7) und mindestens zwei Hochvakuum-Vorratskammern (8, 9) für Halbleitersubstrate.
申请公布号 EP0448763(A1) 申请公布日期 1991.10.02
申请号 EP19900106139 申请日期 1990.03.30
申请人 SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT 发明人 KOERNER, HEINRICH, DR.-DIPL.-CHEM.;TREICHEL, HELMUTH, DIPL.-ING. (FH);KUECHER, PETER, DR.-DIPL.-PHYS.;HIEBER, KONRAD, DR.-DIPL.-PHYS.
分类号 H01L21/28;H01L21/285;H01L21/3213 主分类号 H01L21/28
代理机构 代理人
主权项
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