发明名称 PROCESS AND ARRANGEMENT FOR MEASURING RESISTANCE SUITABLE FOR DIGITAL DATA PROCESSING ESPECIALLY FOR MEASURING TEMPERATURE WITH HIGH ACCURACY IN INDUSTRIAL ENVIRONMENT BY HIGH DISTURBANCE LEVEL
摘要
申请公布号 HU910197(D0) 申请公布日期 1991.08.28
申请号 HU19910000197 申请日期 1991.03.05
申请人 OGIMEX OLAJ- ES GAZIPARI MUESZER ELEKTRONIKA KISSZOEVETKEZET,HU 发明人 PAPP,ANDOR,HU
分类号 G01K7/18;G01R27/14 主分类号 G01K7/18
代理机构 代理人
主权项
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