| 发明名称 | 单模光纤双折射测量方法 | ||
| 摘要 | 一种单模光纤双折射测量方法，特别适用于测量短拍长的单模光纤。此方法是利用消光法测出单模光纤在不同扭曲下的偏振状态，即测出两个输出线偏振态的传播相位差2φ的绝对值，绘出sin2φ～a2l2曲线(此处l2为光纤中间未粘部分的长度，a2为其扭曲率)，将曲线极值点的横坐标代入公式(I)，求出双折射值。测量是通过单色光源、偏振片、物镜、光纤固定装置、光纤扭曲装置、四分之一波长片、光检测器等进行的。 | ||
| 申请公布号 | CN85100420B | 申请公布日期 | 1988.04.13 |
| 申请号 | CN85100420 | 申请日期 | 1985.04.01 |
| 申请人 | 上海交通大学光纤技术研究所 | 发明人 | 黄上元;林宗琦 |
| 分类号 | G01M11/02 | 主分类号 | G01M11/02 |
| 代理机构 | 上海专利事务所 | 代理人 | 颜承根 |
| 主权项 | 1、一种单模光纤双折射的测量方法，特别适用于测量短拍长的单模光纤，其步骤包括： | ||
| 地址 | 上海市法华钲路535号 | ||