发明名称 Electron Beam Depicting Pattern Design Photomask Methods of Electron Beam Depicting and Fabricating Photomask and Fabricating Semiconductor Device Using the Same
摘要 전자빔의 묘화 패턴 디자인, 포토마스크, 포토마스크의 전자빔 묘화 방법, 포토마스크의 제조 방법 및 반도체 소자의 제조 방법이 설명된다. 본 발명의 기술적 사상에 의한 포토마스크의 전자빔 묘화 방법은, 표면에 전자빔 레지스트가 형성된 포토마스크를 준비하고, 상기 전자빔 레지스트를 묘화하고, 및 상기 전자빔 레지스트 패턴을 형성하는 것을 포함하고, 상기 전자빔 레지스트를 묘화하는 것은, 전자빔이 조사되는 전자빔 묘화 영역, 및 상기 전자빔 묘화 영역 내에 배치되고 전자빔이 조사되지 않는 전자빔 비묘화 영역을 포함하고, 상기 전자빔 묘화 영역과 상기 전자빔 비묘화 영역은 동일한 극성의 전자빔 레지스트 패턴으로 형성된다.
申请公布号 KR101689770(B1) 申请公布日期 2016.12.26
申请号 KR20100000602 申请日期 2010.01.05
申请人 삼성전자주식회사 发明人 최진;이상희;이래원
分类号 H01L21/027 主分类号 H01L21/027
代理机构 代理人
主权项
地址