发明名称 |
一种用于检测粮食颗粒合格率的装置 |
摘要 |
本实用新型提供一种用于检测粮食颗粒合格率的装置,其包括架体,所述架体的内侧设有与所述架体的侧壁形成一定角度倾斜的物料滑道,所述物料滑道上设有向下的滑槽以及与所述滑槽垂直设置的可透光狭隙;所述架体上与所述侧壁相对的短侧壁的上端设有一面板,所述面板上设置基于可编程器件控制的电荷耦合器驱动的光电传感器,所述光电传感器上设有平行于物料滑道所在平面、且位于该平面的上方的镜头。本实用新型的检测装置,结构简单,操作方便。 |
申请公布号 |
CN206114541U |
申请公布日期 |
2017.04.19 |
申请号 |
CN201621136002.4 |
申请日期 |
2016.10.18 |
申请人 |
中国农业大学 |
发明人 |
王伟;兰辉;刘伟;褚璇;姜洪喆;赵昕;赵立婷;刘声泉;贾贝贝 |
分类号 |
G01N21/85(2006.01)I |
主分类号 |
G01N21/85(2006.01)I |
代理机构 |
北京路浩知识产权代理有限公司 11002 |
代理人 |
汤财宝 |
主权项 |
一种用于检测粮食颗粒合格率的装置,其特征在于:其包括架体(15),所述架体(15)的内侧设有与所述架体(15)的侧壁(15a)形成一定角度倾斜的物料滑道(4),所述物料滑道(4)上设有向下的滑槽(4a)以及与所述滑槽(4a)垂直设置的中空的狭隙(4b);所述架体(15)上与所述侧壁(15a)相对的短侧壁(15b)的上端设有一面板(14),所述面板(14)上设置基于可编程器件(11)控制的电荷耦合器驱动的光电传感器(10),所述光电传感器(10)上设有平行于物料滑道(4)所在平面、且位于该平面的上方的镜头(9)。 |
地址 |
100193 北京市海淀区圆明园西路2号 |