| 摘要 |
테스터로부터 오티피(OTP: One-Time Programmable) 메모리 장치를 포함하는 반도체 집적 회로로 프로그램 명령을 전달한다. 상기 오티피 메모리 장치에서, 상기 프로그램 명령에 응답하여 상기 오티피 메모리 장치의 복수의 오티피 메모리 셀들에 대하여 프로그램 및 프로그램 검증을 수행한다. 상기 오티피 메모리 장치에서, 상기 오티피 메모리 셀들에 대하여 프로그램 검증 결과를 누적하여 누적 검증 결과 신호를 발생한다. 상기 오티피 메모리 장치로부터 상기 테스터로 상기 누적 검증 결과 신호를 전달한다. 상기 테스터에서, 상기 누적 검증 결과 신호에 기초하여 상기 오티피 메모리 장치의 재프로그램 여부를 결정한다. 프로그램 검증 결과를 누적하여 테스터에 제공함으로써 오티피 메모리 장치를 포함하는 반도체 집적 회로의 테스트 시간을 감소할 수 있다. |
