发明名称 半導体積層構造体及びその製造方法、並びに半導体素子
摘要 【課題】β−Ga2O3基板上に形成された表面状態の良好な窒化物半導体層を有する半導体積層構造体及びその製造方法、並びにその半導体積層構造体を含む半導体素子を提供する。【解決手段】(−201)面若しくは(101)面、又はその面を基準とするオフセット面を主面2aとする、β−Ga2O3結晶からなる基板2と、バッファ層3を介して基板2上に形成された窒化物半導体層4と、を有し、窒化物半導体層4の主面4aにおける、第1の方向へのオフセット角度が−0.35°以上−0.15°以下又は0.15°以上0.35以下であり、第2の方向へのオフセット角度が−0.35°以上0.35°以下である、半導体積層構造体1を提供する。【選択図】図2
申请公布号 JP2017011149(A) 申请公布日期 2017.01.12
申请号 JP20150126358 申请日期 2015.06.24
申请人 株式会社タムラ製作所 发明人 山下 佳弘;飯塚 和幸;森島 嘉克
分类号 H01L21/205;C30B25/18;C30B29/38;H01L33/16;H01L33/32 主分类号 H01L21/205
代理机构 代理人
主权项
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