发明名称 |
一种用于红外传感器测试的智能测试卡 |
摘要 |
本实用新型涉及红外传感器测试技术领域,具体涉及一种用于红外传感器测试的智能测试卡及测试设备,所述智能测试卡由测试卡本体、黑体靶、温度传感器、NFC模块和通孔组成;黑体靶设置在所述测试卡本体的中心位置,温度传感器设置在黑体靶的中心及四周位置,NFC模块设置在测试卡本体上,通孔为电磁铁互锁机构的通孔,设置在黑体靶的上方位置;所述测试设备包括多模式黑体,其内部设置有若干智能测试卡、电磁铁互锁机构、运动装置和主控芯片;本实用新型中的智能测试卡,能及时对黑体靶的温度进行检测,传输,确保了测试中测试卡温度的稳定性,以及产品最终的标定精度;本实用新型的测试设备能够在测试时节省时间与空间,实现快速流水化测试。 |
申请公布号 |
CN205691232U |
申请公布日期 |
2016.11.16 |
申请号 |
CN201620407058.2 |
申请日期 |
2016.05.05 |
申请人 |
合肥芯福传感器技术有限公司 |
发明人 |
赵照 |
分类号 |
G01J5/00(2006.01)I;G01J5/52(2006.01)I |
主分类号 |
G01J5/00(2006.01)I |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
一种用于红外传感器测试的智能测试卡,其特征在于:所述智能测试卡由测试卡本体(1)、黑体靶(2)、温度传感器(3)、NFC模块(4)和通孔(5)组成,所述黑体靶(2)采用高导热材料制作,设置在所述测试卡本体(1)的中心位置,所述温度传感器(3)设置在黑体靶(2)的中心及四周位置,用以监测黑体靶温度,所述NFC模块(4)设置在测试卡本体上,用以同测试主控中心进行通信,并传输ID号、温度传感器数据、时间信息,所述通孔(5)为电磁铁互锁机构的通孔,设置在黑体靶(2)的上方位置,用以实现智能测试卡在黑体内部电磁铁互锁固定。 |
地址 |
230031 安徽省合肥市高新区创新产业园二期F1栋1405室 |