发明名称 |
一种监控FPC金手指金面粗糙的工艺方法 |
摘要 |
本发明提供一种监控FPC金手指金面粗糙的工艺方法,包括:S1:使用金相显微镜对FPC金手指的金面进行观察,标识出金面不平整的位置;S2:对所标识出的位置制作金相切片;S3:使用金相显微镜确认切片上镍面凸起或凹陷的位置,测量所述镍面凸起或凹陷的高度;S4:判断所述高度是否符合预设的判定标准。本发明量化了金面平整度的检测过程,显著提高检测的精确度,确保最终成品的金面的平整度符合客户的标准,提高良品率以及客户的满意度。 |
申请公布号 |
CN105470161A |
申请公布日期 |
2016.04.06 |
申请号 |
CN201510918555.9 |
申请日期 |
2015.12.10 |
申请人 |
深圳市精诚达电路科技股份有限公司 |
发明人 |
柳家强;聂魁丰 |
分类号 |
H01L21/66(2006.01)I;H05K3/40(2006.01)I |
主分类号 |
H01L21/66(2006.01)I |
代理机构 |
深圳市博锐专利事务所 44275 |
代理人 |
张明 |
主权项 |
一种监控FPC金手指金面粗糙的工艺方法,其特征在于,包括:S1:使用金相显微镜对FPC金手指的金面进行观察,标识出金面不平整的位置;S2:对所标识出的位置制作金相切片;S3:使用金相显微镜确认切片上镍面凸起或凹陷的位置,测量所述镍面凸起或凹陷的高度;S4:判断所述高度是否符合预设的判定标准。 |
地址 |
518000 广东省深圳市宝安区沙井镇辛养村西环工业区B栋 |