测量BST陶瓷在X波段的参数的装置及方法

摘要

本发明公开了一种测量BST陶瓷在X波段的参数的装置及方法，包括底座、支柱、顶板、加压柱、上镀金圆盘、下镀金圆盘、X轴精密位移平台、Y轴精密位移平台、探针、谐振环和固定柱，支柱一端与底座固连，另一端与顶板固连，顶板中心设有螺纹孔，加压柱通过螺纹与上述螺纹孔连接，上镀金圆盘设置在加压柱底部，固定柱一端与底座中心固连，另一端设有下镀金圆盘，上镀金圆盘和下镀金圆盘的平滑表面相对，谐振环设置在下镀金圆盘上，待测BST陶瓷设置在谐振环内，X轴精密位移平台和Y轴精密位移平台对称设置在下镀金圆盘两侧的底座上，两根探针分别设置在X轴精密位移平台和Y轴精密位移平台上，探针伸入谐振环。本发明可以对BST陶瓷材料X波段介电常数、介电损耗和调谐率的精确测量。

主权项

一种测量BST陶瓷在X波段的参数的装置，其特征在于：包括底座（1）、支柱（2）、顶板（3）、加压柱（4）、上镀金圆盘（5）、下镀金圆盘（6）、X轴精密位移平台（7）、Y轴精密位移平台（8）、探针（9）、谐振环（10）和固定柱（11），支柱（2）一端与底座（1）固连，另一端与顶板（3）固连，顶板（3）中心设有螺纹孔，加压柱（4）通过螺纹与上述螺纹孔连接，上镀金圆盘（5）设置在加压柱（4）底部，固定柱（11）一端与底座（1）中心固连，另一端设有下镀金圆盘（6），上镀金圆盘（5）和下镀金圆盘（6）的平滑表面相对，谐振环（10）设置在下镀金圆盘（6）上，待测BST陶瓷设置在谐振环（10）内，X轴精密位移平台（7）和Y轴精密位移平台（8）对称设置在下镀金圆盘（6）两侧的底座（1）上，两根探针（9）分别设置在X轴精密位移平台（7）和Y轴精密位移平台（8）上，探针（9）伸入谐振环（10）。